当前位置:全部  > 通信/电子  > 电子设计

001-SMT表面贴装工程之BGA技术荟萃

  • 创建者:草庐一苇
  • 创建时间:2011-03-03 20:36
  • 修改时间:2011-03-07 19:35
  • 介绍:主要文件包括:bga csp器件焊点可靠性研究、bga封装形式对再流焊效果的影响、BGA焊接、bga黑墊的原因、BGA維修作业、bga植球说明书、建立BGA的接收标准、球栅阵列bga、实现bga的良好焊接、先进封装Wafer-Level Package与TCP市场、减小表面氧化膜对LD2扩散焊接头不利影响的工艺研究、硅片键合技术的研究进展、SMT生产系统的最佳化仿真等。是学习smt技术的入门教材。
  • 关键词: BGA CSP 可靠性 SMT 黑垫 植球 回流焊接 工艺要求
浏览量:5194 收藏量:5 分享量:1
  • 0
  • 分享到
  • 共11个文档
Various BGA and CSP12 p
pdf Various BGA and CSP
Wafer scale CSP ,CSP mounting process,Self-alignment of BGA,Resist design,Daisy chain for mount test,Hitachi CSP152 test results,Strain distribution,..
  • 上传人: 草庐一苇
  • 2011-02-20 23:56
  • 0
  • 评论1
  • 收藏3
TopLine 2003 datalog75 p
pdf TopLine 2003 datalog
HOW TO ORDER
PAYMENT TERMS
• Credit Terms (Net 30) for established customers.
• American Express, Mastercard and VISA accepted.
C..
  • 上传人: 草庐一苇
  • 2011-02-20 23:56
  • 0
  • 评论0
  • 收藏1
BGA/CSP器件焊点可靠性研究8 p
doc BGA/CSP器件焊点可靠性研究
据统计发现,电子设备出现的故障中有很大一部分是由于焊点接触不良而造成的,尤其是移动式设备,因此焊点可靠性一直是工程技术人员所关注的问题。随着新型器件不断涌现,在应用之前更需要对其焊接可靠性进行详细的评估。本文以移动电话所应用的BGA/CSP器件为例,分析温度循环和跌落冲击对焊点可靠性所造成的各种影响。
  • 上传人: 草庐一苇
  • 2011-02-20 23:56
  • 0
  • 评论0
  • 收藏3
BGA封装形式对再流焊效果的影响7 p
doc BGA封装形式对再流焊效果的影响
由于BGA具有很多优势,因此在目前电子工业中已被广泛应用。BGA的封装形式有多种,形成了一个“家族”,它们之间的区别主要在于材料和结构(塑料、陶瓷、引线焊接、载带等)的不同。本文将就这封装形式对再流焊工艺的影响进行计论。
  • 上传人: 草庐一苇
  • 2011-02-20 23:56
  • 0
  • 评论0
  • 收藏2
SMT设备的发展现状及趋势15 p
doc SMT设备的发展现状及趋势
BGA焊接 SMT设备的发展现状及趋势 国内SMT设备的现状与趋势 SMT & Assembly 专栏
  • 上传人: 草庐一苇
  • 2011-02-20 23:56
  • 6
  • 评论0
  • 收藏7
The ‘Black Pad’ Failure Mechanism – From Beginning to End  "黑垫"失效机理研究-从开始到结束9 p
pdf The ‘Black Pad’ Failure Mechanism – From Beginning to E..
化学镀镍/浸金(ENIG)成品印制电路板广泛用于整个在电子工业表面贴装和波峰焊的操作。锡过早失效/铅焊接连接向沉金涂层,最初似乎是美观的声音常常被经验丰富。本研究的机制,导致这些常见故障,并提出一个模型考虑这些。无电镀镍(EN)浴通常用于电子电路板的板合作存款磷,在不同浓度与镍,铜焊盘上。该模型描述了积聚的一..
  • 上传人: 草庐一苇
  • 2011-02-20 23:56
  • 0
  • 评论0
  • 收藏2
球栅阵列(BGA)封装器件与检测技术、BGA器件及其焊点的质量控制、BGA中的空洞22 p
doc 球栅阵列(BGA)封装器件与检测技术、BGA器件及其焊点的质量控制、BGA中的空洞
球栅阵列(BGA)封装器件与检测技术、BGA器件及其焊点的质量控制、BGA中的空洞
  • 上传人: 草庐一苇
  • 2011-02-20 23:57
  • 2
  • 评论0
  • 收藏15
先进封装Wafer-Level Package与TCP市场18 p
doc 先进封装Wafer-Level Package与TCP市场
先进封装Wafer-Level Package与TCP市场,处于半导体中的封装业对于此风潮亦不得不寻求新颖及符合市场的突破,而这种变动将是未来封装业界极需面对的一大课题与挑战。传统的封装型态虽然仍维持其一定的市场需求与定位,但随着多元化产品的刺激下,将会带动封装界的研究发展能力及创新的契机,而先进的封装产品会..
  • 上传人: 草庐一苇
  • 2011-02-20 23:57
  • 1
  • 评论0
  • 收藏4
减小表面氧化膜对LD2扩散焊接头不利影响的工艺研究6 p
doc 减小表面氧化膜对LD2扩散焊接头不利影响的工艺研究
减小表面氧化膜对LD2扩散焊接头不利影响的工艺研究, 相对于界面微孔消失而言,试件待焊表面的Al2O3氧化膜是铝合金扩散焊过程主要的障碍,因此传统恒温、恒压扩散焊铝合金时所需要的时间较长,而扩散焊过程中长时间的保温不仅降低了生产效率,而且降低了母材的机械性能指标。本文在LD2扩散焊试验中采用机械清理,同时,在..
  • 上传人: 草庐一苇
  • 2011-02-20 23:57
  • 0
  • 评论0
  • 收藏2
硅片键合技术的研究进展7 p
doc 硅片键合技术的研究进展
硅片键合技术是指通过化学和物理作用将硅片与硅片、硅片与玻璃或其它材料紧密地结合起来的方法。硅片键合往往与表面硅加工和体硅加工相结合,用在MEMS的加工工艺中。常见的硅片键合技术包括金硅共熔键合、硅/玻璃静电键合、硅/硅直接键合以及玻璃焊料烧结等。文中将讨论这些键合技术的原理、工艺及优缺点。
  • 上传人: 草庐一苇
  • 2011-02-20 23:57
  • 0
  • 评论0
  • 收藏7
SMT生产系统的最佳化仿真12 p
doc SMT生产系统的最佳化仿真
如何提高产能,降低成本是电子产品制造一直追求努目标,由于SMT(Surface Mount Technology)表面黏着技术的发展,不仅提升产品的功能,更大幅降低生产成本,但由于生产制造技术进步,在生产管理却还是停留在传统工时计算方法,而缺乏一套完整的分析管理方法,加上SMT生产系统所包含设备是非常昂贵,如何使其..
  • 上传人: 草庐一苇
  • 2011-02-20 23:57
  • 0
  • 评论0
  • 收藏6

相关豆单推荐

更多>>
决战全国电子设计大赛
创建者: 收藏量:30
交通灯控制电路设计集锦
创建者: 收藏量:21
电子器件手册
创建者: 收藏量:16
013-电子产品生产工艺全集
创建者: 收藏量:15
锁相环精典资料
创建者: 收藏量:13
数字钟设计集锦
创建者: 收藏量:12

请验证你的邮箱,以便接收更新提醒

验证邮件已发送到你的邮箱null前往邮箱,立即验证。

邮箱地址 null

如果找不到邮件,看看是否在垃圾邮箱或订阅邮箱里,若10分钟内没收到确认信,请[重新发送]

感谢你订阅了null

你会收到更新提醒邮件,同时订阅信息会在首页兴趣标签“null”中显示

邮箱地址 null